- 硅料與硅片品質(zhì)提升解決方案
- 單晶與多晶硅整體檢測(cè)方案介紹
- 黑心片黑邊片解決方案
- 硅片碎片率高解決方案
- 少子壽命不準(zhǔn)確解決方案
- 氧碳含量超標(biāo)解決方案
- 硅塊硬質(zhì)點(diǎn)漏檢解決方案
- 單晶棒電阻率虛高解決方案
- 電池片與組件品質(zhì)提升解決方案
- 太陽(yáng)能電站品質(zhì)提升解決方案
- 太陽(yáng)能電站整體檢測(cè)方案介紹
- 復(fù)雜線路電流檢測(cè)解決方案
- 接地電阻準(zhǔn)確性不高解決方案
- 電能質(zhì)量不穩(wěn)定解決方案
- 溫度快速精確檢測(cè)解決方案
- 藍(lán)寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案
- 藍(lán)寶石和碳化硅整體檢測(cè)方案介紹
- 品質(zhì)定級(jí)解決方案
- 位錯(cuò)腐蝕檢測(cè)解決方案
- 精確定向解決方案
- 平整度精確檢測(cè)解決方案
- 厚度與電阻率便捷檢測(cè)解決方案
- 表面油污解決方案
- 碳化硅微管便攜檢測(cè)解決方案
- 耗材輔料品質(zhì)提升解決方案
- Newsletter
藍(lán)寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案 >> 表面油污解決方案 >> 晶體表面油污檢測(cè)及處理方案
晶片表面有油污，很難以檢測(cè)到，即便用KLA也難以判斷，這主要是有檢測(cè)原理決定的。有污染的晶片若被應(yīng)用的外延，就會(huì)嚴(yán)重影響到LED的品質(zhì)，使成品率下降。所以，如果要排除污染，就必須有一個(gè)專業(yè)的設(shè)備進(jìn)行探測(cè)與判斷。
合能陽(yáng)光提供SQM-500W表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)用于對(duì)樣品表面清潔質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)與分析。
SQM系列產(chǎn)品的重大突破是首次提供表面清潔度的定量分析。可以對(duì)各種表面上的污染進(jìn)行非接觸無(wú)損傷的快速準(zhǔn)確的測(cè)量。結(jié)果能夠?yàn)閮?yōu)化表面清潔工藝提供真實(shí)可靠的分析，為產(chǎn)品品質(zhì)提供有力可信的保證，是公司利潤(rùn)和信譽(yù)提供必不可少的保障。
版權(quán)所有：2008-2050合能陽(yáng)光 京ICP備18015141號(hào)-1